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NIST溯源尺度標準,用于需要高度視覺反差的尺度標和參考應用領域。SUR-CAL 為各種硅晶片的表面性狀的檢測和標提供了便利的工具。產(chǎn)品的粒徑復合儀器廠家所需的各種規(guī)格。SURF-CAL系列產(chǎn)品完符合SEMI行業(yè)協(xié)會的建立的SSIS標指導準則, 微粒粒徑縱貫0.047到3.0微米的范圍, 覆蓋了半導體技術藍圖(ITRS)所義的關鍵質(zhì)控點
NIST溯源尺度標準,用于需要高度視覺反差的尺度標和參考應用領域。SUR-CAL 為各種硅晶片的表面性狀的檢測和標提供了便利的工具。產(chǎn)品的粒徑復合儀器廠家所需的各種規(guī)格。
本系列產(chǎn)品的材料由硼硅酸玻璃或碳酸鹽玻璃制成。微球的粒徑嚴格按照NIST溯源測量法確,是標顯微鏡、光散射儀和其它粒徑檢測儀器的理想標準材料。這些產(chǎn)品也被廣泛地用于激光散射和膠體現(xiàn)象的研究。與不規(guī)則形態(tài)顆粒物相比,采用球面型微粒能夠大程度地減少微粒形狀對分析儀器的影響。2 µm 至20 µm 的玻璃微球是由硼硅酸鹽材料制成的;30 µm 至2000 µm的微球是鈉鈣玻璃材料制成的。
本系列產(chǎn)品的材料由硼硅酸玻璃或碳酸鹽玻璃制成。微球的粒徑嚴格按照NIST溯源測量法確,是標顯微鏡、光散射儀和其它粒徑檢測儀器的理想標準材料。這些產(chǎn)品也被廣泛地用于激光散射和膠體現(xiàn)象的研究。與不規(guī)則形態(tài)顆粒物相比,采用球面型微粒能夠大程度地減少微粒形狀對分析儀器的影響。