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新品晶圓表面用二氧化硅SiO2標準粒子的介紹

更新時間:2022-08-11      點擊次數(shù):1168

新品晶圓表面用二氧化硅SiO2標準粒子的介紹

                                                                      Nanosilica-with-particle-sample.jpg



 

產(chǎn)品名稱:

SiO2微粒子標準溶液

納米級別二氧化硅

SiO2標準粒子

晶圓表面用二氧化硅

 

納米二氧化硅尺寸標準

 

MSP Corporation  NanoSilica™Size Standards  SiO2顆粒的濃縮水懸浮液,具有高度均勻的尺寸分布。

這些粒徑標準目前提供的標稱尺寸范圍為 15  200 nm,非常適合為下一代晶圓和光掩模檢測系統(tǒng)生產(chǎn)高質(zhì)量校準標準。

 

雖然 MSP 23000NPT 系列和 2300G3 系列粒子沉積系統(tǒng)為表面缺陷校準標準的生產(chǎn)提供了結果,但較舊的 MSP 系統(tǒng)和其他制造商的系統(tǒng)也適用于納米二氧化硅尺寸標準。

特征

極其均勻的尺寸分布

我們的納米二氧化硅尺寸標準采用獲得** SiO2合成工藝開發(fā),其尺寸分布比市售的 PSL 球更窄。

使用 SI 可追溯性測量的峰直徑

允許產(chǎn)量提高和計量小組根據(jù) ISO 9000 標準和 SEMI 指南建立其檢查和缺陷審查方法的可追溯性。

受到強烈 DUV 輻射時穩(wěn)定

MSP  SiO2顆粒在暴露于 DUV 輻射時不會降解,這與 PSL 球體不同,PSL 球體的尺寸會減小。

易于使用

NanoSilica 顆粒懸浮液在滴管瓶中提供,以便在您的應用中混合具有適當數(shù)量濃度的懸浮液時使用方便。

高粒子濃度

一些應用需要高濃度。 MSP 的顆粒濃度是業(yè)內(nèi)最高的之一。

 

輕松辨別模態(tài)(峰值)直徑

避免由于平均和峰值直徑值之間的差異而導致的差異

制備適用于效率相對較高或較低的氣溶膠產(chǎn)生裝置的稀釋懸浮液

為***的檢測工具創(chuàng)建持久的校準標準

消耗更少的材料;存錢

隨附校準和可追溯性證書以及帶有處理和處置說明的安全數(shù)據(jù)表 (SDS)

 

 

型號

 

目錄編號

標稱粒徑 [nm]

認證1峰值直徑 [nm]

大約

Size Dist. Width, RFWHM2

 

1044

NS-0015A

15

14-16

13%

1046

NS-0018A

18

17-19

12%

1047

NS-0020A

20

19-21

11%

1048

NS-0024A

24

23-25

10%

1075

NS-0027A

27

26-28

9%

1049

NS-0030A

30

29-31

8%

1079

NS-0032A

32

31-33

7%

1062

NS-0035A

35

34-36

7%

1076

NS-0037A

37

36-38

6%

1051

NS-0040A

40

39-41

6%

1063

NS-0045A

45

44-46

5%

1052

NS-0050A

50

49-51

5%

1077

NS-0055A

55

53-57

5%

1053

NS-0060A

60

58-62

4%

1067

NS-0064A

64

62-66

4%

1054

NS-0070A

70

68-72

4%

1068

NS-0074A

74

72-76

4%

1055

NS-0080A

80

78-82

4%

1069

NS-0084A

84

82-86

4%

1057

NS-0090A

90

88-92

4%

1070

NS-0094A

94

92-96

4%

1058

NS-0100A

100

98-102

4%

1071

NS-0104A

104

102-106

4%

1059

NS-0125A

125

120-130

4%

1060

NS-0150A

150

145-155

4%

1061

NS-0200A

200

190-210

4%

1給定目錄號的認證直徑將在規(guī)定范圍內(nèi)提供。

2相對半高寬(半高全寬); FWHM 除以模態(tài)直徑。

 

規(guī)格

粒子組成

無定形SiO2

粒子密度

1.9 /3

折射率

633納米時為1.41

體積

專注

每毫升 1013 1015顆粒

截止日期

≥ 24 

 

添加劑

乙醇(按質(zhì)量計 5-20%

有機穩(wěn)定劑(<0.1% 質(zhì)量

 

儲存和處理

在室溫下儲存(參見校準和可追溯性證書

更多詳情。

 

1659872104127.png

 

 

NanoSilica™ 微粒子標準溶液是由MSP Corporation制作的高度均勻尺寸SiO2微粒子濃縮水溶液,微粒子尺寸從18nm200nm都可選擇,是市面上***、高質(zhì)量的校正標準,適用于最新一代的晶圓表面污染/缺陷檢查系統(tǒng)及光罩檢查系統(tǒng)。

***的半導體檢查技術已經(jīng)發(fā)展到小于30nm,以往使用Polystyrene latex (PSL)球形化粒子即可做晶圓表面污染/缺陷檢查系統(tǒng)及光罩檢查系統(tǒng)的校正,但新一代的檢查系統(tǒng)使用到Deep ultraviolet (DUV) or Extreme ultraviolet (EUV)才能檢查小于20nm的污染或缺陷,當UV光重復打在PSL球形化粒子上,將影響到PSL球形化粒子的質(zhì)量由于SiO2微粒子在DUVEUV的照射下?lián)碛蟹€(wěn)定的質(zhì)量,因此SiO2微粒子是不錯的替代產(chǎn)品。

NanoSilica™ 微粒子標準溶液是使用有**SiO2合成技術,可以做到如PSL球形化粒子一樣的尺寸分布,從目前最小的微粒子尺寸來看,NanoSilica™ 微粒子標準溶液是尺寸最均勻,適合做尺寸大小峰值的量測的工具。

NIST-traceable NanoSilica™ 微粒子標準溶液是MSP Corporation透過National Institute of Standards and Technology (NIST)追溯到標準單位的產(chǎn)品,加上ISO 9000SEMI的認證,讓良率提升及表面檢查和缺陷評估有所依據(jù)。

NanoSilica™ 微粒子標準溶液使用15-mL滴定,讓使用者操作更方便。每一瓶溶液的卷標皆標示產(chǎn)品編號、生產(chǎn)編號、微粒子尺寸峰值、尺寸分布半高寬及有效期限,而且提供NIST-traceable證明書與Material Safety Data Sheet (MSDS)說明書。

產(chǎn)品優(yōu)勢
尺寸大小分布均勻
•NIST traceability 的尺寸大小
•DUVEUV的照射下?lián)碛蟹€(wěn)定的質(zhì)量
高濃縮度微粒子懸浮溶液

產(chǎn)品效益
易于微粒子撒粒系統(tǒng)、晶圓表面污染/缺陷檢查系統(tǒng)或各類分析儀器偵測與量測尺寸峰值
可避免平均尺寸與尺寸峰值的差異性
適合氣膠產(chǎn)生設備使用
提供耐久校正標準給先進的檢測設備使用
省錢而且耗用量少

 

 

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